Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей
	Категория: Технические науки » Другие технические науки
		Автор: Батаев В.А. Издательство: Наука Год издания: 2007 isbn: 978-5-02-034811-0 Количество страниц: 224 Язык: русский Формат: DJVU Размер: 4 Мб Каталожный номер: 93366	В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов. Ключевые теги: анализ материалов
	Похожие публикации: Анализ почвы. Минералогические, органические и неорганические методы анализ ... Средства измерения линейных размеров с использованием оптических квантовых ... Стендовые испытания и регулировка оптико-электронных приборов Неразрушающий контроль. Справочник. Т. 2. Изготовление объектов котлонадзора. Справочник Современные методы аналитической химии. В 2-х томах. Т.1, Т.2 Неразрушающий контроль. Акустические методы контроля. Книга 2 Контроль пылеулавливающих установок Основы конструирования одежды: Учебник Методы и техника обработки сигналов при физических измерениях. В 2-х т.: Т. ...
	Ссылки на файлообменные сервера Размер архива в Mb http://dfiles.ru/files/pm5w00vq5 4 http://tweekalien.rusfolder.net/files/35668070 4
	Оцените эту публикацию!
	0 Опубликовал: xalienx | 7-04-2013, 14:29 | Просмотров: 584   Комментарии (0)  Печать